分析技术介绍
看见看不见之处，品质由此开始。
从 ppb 级微量元素到晶粒取向——肉眼看不见的，我们来测量。
GD-MS (Glow Discharge Mass Spectrometry)
显微组织与成分精密分析
通过 GDMS，可将材料显微组织与成分中的微量元素及杂质含量精密分析至极低水平（ppm～ppb）。 ppm～ppb 级的微量元素成分也可精密分析。
分析数据示例
半定量分析
通过 GDMS 分析，可定量评价材料中金属与非金属杂质的含量，并追溯工艺过程中可能引入的污染来源，从而确保成分均匀性与高纯度特性。由此提升材料的电学特性、可靠性与工艺再现性，稳定供应符合客户要求的高品质材料。
EBSD (Electron Backscatter Diffraction)
晶粒结构与晶体取向精密分析
采用 EBSD 分析技术，可精密评价晶粒尺寸与晶体取向，系统分析显微组织与变形行为。 由此可定量解析工艺条件引起的显微组织变化，为提升材料的均匀性、可靠性与品质提供支撑。
分析数据
晶粒尺寸（Grain Size）分析
晶体取向分析（IPF Map）
